Ausstattung

 

Wir nutzen folgende Geräte und Methoden für unsere Forschung:


Analyse

  • Sekundärionenmassenspektrometer, SIMS: ION-TOF TOF-SIMS IV
  • Rasterelektronenmikroskop LEO/Zeiss 1450VP, mit einem Oxford INCA EDX-System
  • Interferenzmikroskop Veeco NT1100
  • Lichtmikroskop Leica DM-RM, mit CCD-Kamera und einer Hochtemperaturkammer für Temperaturen bis 900°C bei variablen Atmosphären


Probencharakterisierung

  • Röntgendiffraktometer STOE STADI-P
  • Röntgendiffraktometer STOE Theta-Theta mit einer Buehler high temperature chamber HDK 1.4 für Temperaturen bis 1400 °C bei variablen Atmosphären
  • Thermowaage Setaram SETSYS
  • In situ-Impedanzspectroskop Schlumberger-Solatron + HP
  • In situ Gleichstrommessungen in 4-Punkt van der Pauw-Geometrie
  • Gasphasenmassenspektrometer
  • In situ Probenkammer für Röntgenabsorptionsspektroskope für Temperaturen bis 1300 °C und variablen Atmosphären


Synthese

  • Pulsed Laser Deposition, PLD: SURFACE PLD-Arbeitsplatz
  • Mehrere Hochtemperaturöfen für Temperaturen bis 1600 °C, teilweise mit variablen Atmosphären
  • Elektronenstrahlofen
  • Hydraulische Presse
  • Kugelmühle
  • Partikelgrößentrenner
  • Einkristallzucht (Bridgman) bei Temperaturen bis 900 °C
  • Chemielabor


Probenvorbereitung und Metallographie

  • Diamantdrahtsäge
  • Polier- und Schleifmaschinen
  • Diamantsäge


Radioisotopenlabor

  • Mehrkanal-Gammadetektor (Oxford)
  • Poliermaschine
  • Mehrere Hochtemperaturöfen bis 1500 °C mit variablen Atmosphären