Ausstattung
Wir nutzen folgende Geräte und Methoden für unsere Forschung:
Analyse
- Hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop JEOL JSM-7800F Prime mit einem Oxford Aztec EDX-System und einem Oxford INCA WDX-System
- Sekundärionenmassenspektrometer, SIMS: ION-TOF TOF-SIMS IV
- Rasterelektronenmikroskop LEO/Zeiss 1450VP, mit einem Oxford INCA EDX-System
- Interferenzmikroskop Veeco NT1100
- Lichtmikroskop Leica DM-RM, mit CCD-Kamera und einer Hochtemperaturkammer für Temperaturen bis 900°C bei variablen Atmosphären
Probencharakterisierung
- Röntgendiffraktometer STOE STADI-P
- Röntgendiffraktometer STOE Theta-Theta mit einer Buehler high temperature chamber HDK 1.4 für Temperaturen bis 1400 °C bei variablen Atmosphären
- Thermowaage Setaram SETSYS
- In situ-Impedanzspectroskop Schlumberger-Solatron + HP
- In situ Gleichstrommessungen in 4-Punkt van der Pauw-Geometrie
- Gasphasenmassenspektrometer
- In situ Probenkammer für Röntgenabsorptionsspektroskope für Temperaturen bis 1300 °C und variablen Atmosphären
Synthese
- Pulsed Laser Deposition, PLD: SURFACE PLD-Arbeitsplatz
- Mehrere Hochtemperaturöfen für Temperaturen bis 1600 °C, teilweise mit variablen Atmosphären
- Elektronenstrahlofen
- Hydraulische Presse
- Kugelmühle
- Partikelgrößentrenner
- Einkristallzucht (Bridgman) bei Temperaturen bis 900 °C
- Chemielabor
Probenvorbereitung und Metallographie
- Cross Section Polisher JEOL IB-19500CP
- Diamantdrahtsäge
- Polier- und Schleifmaschinen
- Diamantsäge
Radioisotopenlabor
- Mehrkanal-Gammadetektor (Oxford)
- Poliermaschine
- Mehrere Hochtemperaturöfen bis 1500 °C mit variablen Atmosphären