Upper and Lower Tight Error Bounds for Feature Omission with an Extension to Context Reduction

New York, NY / IEEE (2018, 2019) [Fachzeitschriftenartikel]

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence : TPAMI
Band: 41
Ausgabe: 2
Seite(n): 502-514

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Schlüter, Ralf
Beck, Eugen
Ney, Hermann

Identifikationsnummern